Исследователи Национального института стандартов и технологий США (NIST) разработали специализированное программное обеспечение, которое позволяет выявить наличие мельчайших примесей в составе сверхчистых материалов и сплавов.

Как сообщается в пресс-релизе, предложенный программный пакет анализирует данные, собранные при помощи растрового (сканирующего) электронного микроскопа. Принцип работы такого микроскопа сводится к облучению исследуемого образца пучком электронов и последующей регистрации отраженных и вторичных электронов. Причем анализ рентгеновского излучения, помимо информации о рельефе поверхности, позволяет получить данные о химическом составе образца, поскольку энергия эмитируемых различными участками материала электронов различна. Правда, из-за сложности интерпретации данных электронного микроскопа, как правило, определяются лишь основные компоненты сплава.

Американские ученые нашли способ, как сделать такой анализ гораздо более точным. Разработанный программный пакет позволяет определять состав участков образца, соответствующих буквально каждому отсканированному пикселю. Исследователи, в частности, смогли обнаружить крошечное вкрапление хрома в сплаве никеля и алюминия (см. рисунок). Планируется, что в перспективе подобная методика позволит контролировать процесс получения сверхчистых материалов с уникальными свойствами, а также поможет при производстве полупроводниковых микросхем следующего поколения.

На изображении красный цвет соответствует чистому никелю, синий - чистому алюминию, смешанный цвет - сплаву никеля и алюминия, зеленая точка - вкраплению хрома. Источник compulenta.ru